科學家發現10個新的智力障礙易感基因

研究人員首先分析了荷蘭(lan) 奈梅亨大學醫學中心遺傳(chuan) 檢測項目中的外顯子組測序結果，包括820名輕度到重度智力障礙兒(er) 童及其父母的數據，隨後又分析了已發表研究中約1300個(ge) 家庭（雙親(qin) 和孩子）的測序數據。

從(cong) 這2104個(ge) 家庭中出現的2637個(ge) 新生突變中，研究人員發現了10個(ge) 基因出現新生功能缺失突變過表達，其中包括染色質修飾、脆性X染色體(ti) 、突觸可塑性以及胚胎發育通路相關(guan) 的基因。這項研究結果近期發表在《Nature Neuroscience》上。

文章共同通訊作者、奈梅亨大學醫學中心人類遺傳(chuan) 學研究員Christian Gilissen等人寫(xie) 道，“我們(men) 的研究表明了新生突變對一係列神經發育表型的影響。大量罕見的顯性發育障礙基因還有待進一步被鑒定。”

10個(ge) 新的智力障礙易感基因的發現過程

研究小組選取患有智力障礙的461個(ge) 男孩和359個(ge) 女孩以及他們(men) 的父母，利用安捷倫(lun) SureSelect富集係統分離基因組的蛋白編碼序列，利用Illumina HiSeq測序儀(yi) 進行測序，外顯子組測序平均深度為(wei) 75X。

研究人員發現了1083個(ge) 疑似新生突變，這些突變影響了915個(ge) 基因。他們(men) 又分析了基因特異性突變率，發現了18個(ge) 已知智力障礙基因在患者組中受到新生突變不成比例的影響。

為(wei) 了找到新的候選基因，研究小組去除掉攜帶有已知智力障礙基因的個(ge) 體(ti) ，再次進行分析，將候選基因縮小到4個(ge) 基因，分別為(wei) DLG4、PPM1D、SOX5和TCF20，在智力障礙兒(er) 童中這四個(ge) 基因頻繁地出現新生突變。

研究人員進一步結合已發表研究中測序家庭的數據，共對2104個(ge) 家庭的測序數據進行分析，結果發現了另外6個(ge) 候選基因。

在1471個(ge) 沒有已知智力障礙基因突變的個(ge) 體(ti) 中，研究人員對受1400個(ge) 新生突變影響的1235個(ge) 基因進行meta分析，結果在較小樣本集合中發現了4個(ge) 基因（DLG4、PPM1D、SOX5、TCF20），以及另外6個(ge) 基因：RAC1、SMAD6、SON、TLK2、TRIP12和SYNCRIP，在智力障礙患者中這些基因會(hui) 出現更多的功能缺失性新生突變。

研究小組指出，在一些基因中出現的新生突變可能會(hui) 產(chan) 生重疊的臨(lin) 床特征，例如在兩(liang) 個(ge) 接受檢測的小孩中發現了TLK2基因的突變，這兩(liang) 個(ge) 孩子具有相似的麵部先天性畸形。

這項新分析中鑒定出的許多受新生突變影響的基因和通路，與(yu) 智力障礙、自閉症譜係障礙（ASD）或其他神經發育疾病患者中已經發現的基因重疊。

但文章作者表示，他們(men) 鑒定出的新基因中隻有兩(liang) 個(ge) 基因與(yu) 另一篇發布在bioRxiv上的發育障礙研究檢測到的受新生突變影響的基因重疊，不認同神經發育疾病中大部分受新生突變影響的基因已經被鑒定出來了的這種觀點。